Hari ini, ZEISS meluncurkan inovasi terbarunya dalam bidang mikroskopi sinar-X: ZEISS VersaXRM 730®. Sistem baru ini menawarkan tingkat kinerja, pilihan, dan aksesibilitas yang belum pernah ada sebelumnya bagi para peneliti.
Seiring dengan pesatnya perkembangan teknologi, penting bagi para peneliti untuk memiliki akses ke kemampuan mutakhir yang dapat mengikuti perubahan lanskap. ZEISS VersaXRM 730 dirancang untuk memenuhi kebutuhan dinamis ini, menawarkan kinerja resolusi terobosan serta throughput dan waktu hasil yang lebih cepat untuk mempercepat produktivitas. Sistem panduan dan kontrol intuitif dari platform ini, ZEN navx™ yang telah memenangkan penghargaan, membawa aksesibilitas ke tingkat berikutnya, dengan mengakomodasi pengguna dari berbagai tingkat keterampilan. Mode FAST memberikan tomografi dalam satu menit, secara dramatis mempercepat pencitraan 3D dengan menggunakan pengumpulan data gerakan sampel yang kontinu.
“Microskopi sinar-X 3D yang sukses memerlukan eksplorasi yang efisien, penargetan fitur yang akurat, dan kemampuan yang kuat untuk memungkinkan penemuan baru. Dengan teknologi baru yang dipatenkan dan dikemas dalam lingkungan perangkat lunak yang telah memenangkan penghargaan, ZEISS VersaXRM 730 menawarkan kinerja sinergis yang benar-benar melampaui jumlah bagiannya,” kata Martin Fischer, Kepala Penjualan dan Layanan Global. “Kami telah memanfaatkan platform XRM yang paling terbukti dan serbaguna, yang mencerminkan komitmen kami terhadap keunggulan dan terus mendorong kemajuan dalam bidang mikroskopi sinar-X 3D.”
Peningkatan produktivitas dan aksesibilitas melalui desain yang berorientasi pada pengguna
Sistem panduan dan kontrol ZEN navx merupakan pendekatan sistematis yang mengintegrasikan panduan bawaan, alur kerja otomatis, dan wawasan sistem cerdas. Sistem ini memungkinkan pengguna baru di lingkungan yang sibuk untuk segera produktif, mendapatkan hasil eksperimen dengan lebih mudah dan efisien, serta memperoleh data yang tepat sejak pertama kali tanpa perlu pelatihan intensif. Selain itu, pengguna berpengalaman dapat memanfaatkan seluruh kemampuan platform. ZEN navx juga menyediakan perlindungan sistem dan sampel melalui fitur SmartShield bawaan. ZEN navx File Transfer Utility (FTU) secara otomatis mentransfer data dari mikroskop ke lokasi lain, memastikan pengguna dapat mengakses informasi mereka di tempat dan waktu yang dibutuhkan.
“Perangkat lunak navx yang baru telah sangat membantu dalam meningkatkan alur kerja untuk memperoleh dataset 3D,” ujar Profesor André Phillion dari Departemen Ilmu Material dan Teknik di Universitas McMaster, Ontario, Kanada. “Dengan fitur keselamatan dan pengetahuan sampel yang terintegrasi, sistem ini sangat berguna dalam melatih peneliti muda untuk menjadi pengguna sistem yang mandiri. Sistem ini juga membantu mengurangi waktu yang diperlukan untuk menyiapkan pemrosesan sampel.”
Mencapai proses cepat dalam pencitraan atau pemeriksaan sampel dengan tomografi dalam waktu satu menit
Ekstensi panel datar opsional (FPX) pada seri ZEISS VersaXRM semakin meningkatkan fleksibilitas, memungkinkan tomografi dalam satu menit melalui Mode FAST. Mode FAST memberikan navigasi 3D yang hampir waktu nyata untuk semua sampel berkat integrasi penuh dengan alur kerja Volume Scout di ZEN navx. Kombinasi desain detektor, termasuk detektor 40x-Prime dengan resolusi spasial 450 nm, memungkinkan studi berbagai ukuran dan jenis sampel secara efisien dan akurat. Dengan lebih banyak foton sinar-X yang tersedia di ZEISS VersaXRM, pengguna dapat mencapai hasil yang lebih cepat untuk berbagai ukuran sampel tanpa mengorbankan resolusi.
ZEISS VersaXRM 730 juga dilengkapi dengan teknologi AI yang inovatif, membuka kemampuan aplikasi baru yang sepenuhnya. DeepRecon Pro yang sangat efektif, sebuah modul dari Advanced Reconstruction Toolkit, kini menjadi fitur standar pada platform ZEISS VersaXRM, disertai dengan workstation berkinerja tinggi dan lisensi perangkat lunak selama dua tahun. Inovasi dalam throughput dan kualitas gambar, baik dari segi perangkat keras maupun perangkat lunak, membantu pengguna memaksimalkan dampak penelitian mereka.
ZEISS VersaXRM 730 dan VersaXRM 615 kini sudah tersedia. ZEISS mengundang para peneliti untuk merasakan kekuatan tomografi yang sempurna—untuk setiap pengguna, setiap sampel, setiap waktu—dengan sistem ini.
Ingin tahu lebih banyak mengenai produk GOM, silahkan hubungi gom@ilogoindonesia.id
